Microscopie SEM-FEG

La microscopie électronique à balayage (SEM) est une technique extrêmement puissante pour observer la surface des échantillons à très haute résolution, jusqu’au nanomètre. Un microscope électronique SEM-FEG se caractérise par une source d’électrons spéciale (FEG pour Field Emission Gun) permettant de travailler à basse tension. Les observations microscopiques peuvent être couplées à une analyse chimique des échantillons par EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometry). 

La microscopie électronique SEM-FEG est donc particulièrement bien adaptée pour la plupart des matériaux organiques fragiles qui ont une température de fusion basse.

Novitom s’est spécialisé dans la caractérisation de nano-particules, d’ingrédients, de produits et de revêtements organiques, et dans l’observation de la surface des cheveux et de la peau.

• Etat de surface avant/après traitement
• Observation de gels déposés en film
• Cartographie chimique de produits

• Observation de nano-particules
• Caractérisation chimique de nano-particules

• Imagerie de tissus biologiques
• Détection de micro-organismes
• Dispersion d’ingrédients dans poudres compactées